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  • CJZKD高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    CJZKD高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法，這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí)，雖然擊穿電壓沒(méi)有降低，但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線(xiàn)圈，運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度，不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

    更新時(shí)間：2024-05-09

  • HMZK-2000高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    HMZK-2000高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法，這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí)，雖然擊穿電壓沒(méi)有降低，但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線(xiàn)圈，運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度，不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

    更新時(shí)間：2024-05-09

  • GSL-KC高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    GSL-KC高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法，這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí)，雖然擊穿電壓沒(méi)有降低，但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線(xiàn)圈，運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度，不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

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  • ST-III 高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    ST-III 高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法，這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí)，雖然擊穿電壓沒(méi)有降低，但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線(xiàn)圈，運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度，不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

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  • LCKZ-IV高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    LCKZ-IV高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法，這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí)，雖然擊穿電壓沒(méi)有降低，但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線(xiàn)圈，運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度，不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

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  • HMZK-2000 高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    HMZK-2000 高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
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  • RHA-ZKZ-IV高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    RHA-ZKZ-IV高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
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  • DZK-H 高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    DZK-H 高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
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  • DTZK-V高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    DTZK-V高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法，這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí)，雖然擊穿電壓沒(méi)有降低，但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線(xiàn)圈，運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度，不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

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  • BS-2000高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)量?jī)x
    BS-2000高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)量?jī)x
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法，這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí)，雖然擊穿電壓沒(méi)有降低，但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線(xiàn)圈，運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度，不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

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  • YTC3991真空度測(cè)量?jī)x
    YTC3991真空度測(cè)量?jī)x
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法，這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí)，雖然擊穿電壓沒(méi)有降低，但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線(xiàn)圈，運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度，不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

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  • HL-2C真空度測(cè)量?jī)x
    HL-2C真空度測(cè)量?jī)x
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法，這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí)，雖然擊穿電壓沒(méi)有降低，但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線(xiàn)圈，運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度，不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

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  • ZKY-2000真空度測(cè)量?jī)x
    ZKY-2000真空度測(cè)量?jī)x
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法，這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí)，雖然擊穿電壓沒(méi)有降低，但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線(xiàn)圈，運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度，不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

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  • DZK-H真空度測(cè)量?jī)x
    DZK-H真空度測(cè)量?jī)x
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法，這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí)，雖然擊穿電壓沒(méi)有降低，但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線(xiàn)圈，運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度，不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

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  • SX-2000型真空度測(cè)量?jī)x
    SX-2000型真空度測(cè)量?jī)x
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法，這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí)，雖然擊穿電壓沒(méi)有降低，但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線(xiàn)圈，運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度，不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

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  • HL-ZKD 真空度測(cè)量?jī)x
    HL-ZKD 真空度測(cè)量?jī)x
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法，這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí)，雖然擊穿電壓沒(méi)有降低，但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線(xiàn)圈，運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度，不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

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  • BK8381P真空度測(cè)量?jī)x
    BK8381P真空度測(cè)量?jī)x
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法，這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí)，雖然擊穿電壓沒(méi)有降低，但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線(xiàn)圈，運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度，不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

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  • YHZKY真空度測(cè)量?jī)x
    YHZKY真空度測(cè)量?jī)x
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法，這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí)，雖然擊穿電壓沒(méi)有降低，但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線(xiàn)圈，運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度，不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

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  • ZKD-2000真空度測(cè)量?jī)x
    ZKD-2000真空度測(cè)量?jī)x
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法，這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí)，雖然擊穿電壓沒(méi)有降低，但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線(xiàn)圈，運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度，不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

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  • GD2660真空度測(cè)量?jī)x
    GD2660真空度測(cè)量?jī)x
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法，這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí)，雖然擊穿電壓沒(méi)有降低，但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線(xiàn)圈，運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度，不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

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